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產品中心質譜類儀器氣質聯用(GC-MS)賽默飛高分辨率質譜
產品簡介
使用賽默飛高分辨率質譜/三重四極桿GC-MS/MS系統，簡化較復雜的分析挑戰并獲得高質量的數據。賽默飛高分辨率質譜GC-MS/MS系統提供了準確的定性和定量信息，可滿足研究實驗室對化合物鑒定和定量不斷變化的要求。
product
產品分類| 產地類別 | 進口 | 色譜類型 | 常規氣質 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | Orbitrap質譜 |
| 應用領域 | 綜合 |
使用賽默飛高分辨率質譜/三重四極桿GC-MS/MS系統，簡化較復雜的分析挑戰并獲得高質量的數據。賽默飛高分辨率質譜GC-MS/MS系統提供了準確的定性和定量信息，可滿足研究實驗室對化合物鑒定和定量不斷變化的要求。從發現分析、代謝組學 應用定量分析，科學家能夠輕松獲取信息豐富的數據和結果。體驗高分辨率 GC-MS 分析的突破性性能，獲得最詳細深入的樣品信息。
賽默飛高分辨率質譜/三重四極桿GC-MS/MS系統技術優勢：
1.使您能夠第一時間獲得正確答案。
2.質量準確度、動態范圍和耐用性讓您可以靈活地適應不斷變化的需求。
3.包含智能儀器設置和直觀的用戶體驗，使不同層級的用戶都能訪問該功能。
4.提供的240,000分辨率（在 m/z 200 時），實現亞 1 ppm 級的質量準確度和低至 ppt 級濃度的靈敏度。
5.在所有質量分辨率水平上保持系統靈敏度，因此無需在分辨率和靈敏度之間進行折衷。
6.以一次又一次進樣后保持可重復性能為特征，使高樣本研究中的發現成為可能。
賽默飛高分辨率質譜/三重四極桿GC-MS/MS系統規格表：
| 動態范圍 | 在單個 Orbitrap 質量分析儀光譜范圍內 >5000 |
| 質量范圍 | 30 至 3000 m/z |
| 質量準確度 | 外部校準實現24小時內 <3 ppm RMS 的偏移；內部鎖定質量校準實現24小時內 <1 ppm RMS 的偏移 |
| 分辨率 | m/z 200 時，高達240,000 |
| 掃描速率 | 在 m/z 200 時，分辨率設置為7,500，高達 40 Hz |
| 描述 | Orbitrap Exploris GC 240 質譜儀 |
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